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透射電子顯微鏡
信息來源:    發布時間:2014-08-27    閱讀次數:

Tecnai G2 20 200kV透射電子顯微鏡

  

 

 

1.高性能TEM 成像和分析,用于材料和生命科學應用的高分辨率多功能工具;

2.雙傾樣品桿,可方便的完成對晶體樣品的傾轉,得到各晶面的衍射圖譜,幫助晶體結構解析;

3.先進的EDAX能量色散X射線譜儀(EDS),精準實現材料元素的同步微區分析。

具體參數如下:

 

該儀器可觀察各種材料的微觀結構并對樣品進行納米尺度的微區分析,如:

形貌觀察;高分辨電子顯微像;電子衍射;會聚束電子衍射;衍射襯度成像;X射線能譜分析等。


 
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